數(shù)字IC測試儀
GUT-6000B數(shù)字IC測試儀主要特點：
GUT-6000B一款臺式數(shù)字IC測試儀。為了自動完成測試任務，GUT-6000B包含自動搜索和循環(huán)測試等功能，以及自能化連續(xù)偵測壞損IC功能。自我診斷和過載保護功能使它更接近零維護，減少了用戶不必要的麻煩。
可測試1800多種常見的TTL和CMOS器件，真正在數(shù)字IC測試領域實現(xiàn)一個機型測量所有器件的解決方案。
循環(huán)測試，自動搜尋，自我診斷。過載保護，測量1800種設備
支持54/74系列TTL，支持4000和4500系列CMOS
測試管腳：28-pin
GUT-6000B產品規(guī)格：
產品規(guī)格：
測試范圍 | |
| 54/74 系列 TTL |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
DRIVE | |
量測種類 | |
| 約 1800 種 |
測試電壓 | |
| 2.5/3.0/3.3/5V DC |
測試時間 | |
| 高測試速度，平均 0.6 秒可完成一個 IC |
使用電源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸及重量 | |
| 335(寬) x 105(高) x 300(長) mm |
GUT-6000B訂購信息：
使用手冊x1， 電源線x1
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